Desarrolo de patrones nacionales de nivel primario y secundario de metrología óptica para el LAFTLA
Zapisane w:
| 1. autor: | |
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| Format: | Książka |
| Wydane: |
[San José, Costa Rica: Universidad de Costa Rica. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones en Ingeniería.]
[2001?]
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| Etykiety: |
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