Desarrolo de patrones nacionales de nivel primario y secundario de metrología óptica para el LAFTLA
Gardado en:
| Autor Principal: | |
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| Formato: | Libro |
| Publicado: |
[San José, Costa Rica: Universidad de Costa Rica. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones en Ingeniería.]
[2001?]
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