Desarrolo de patrones nacionales de nivel primario y secundario de metrología óptica para el LAFTLA
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριος συγγραφέας: | |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Έκδοση: |
[San José, Costa Rica: Universidad de Costa Rica. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones en Ingeniería.]
[2001?]
|
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|