Desarrolo de patrones nacionales de nivel primario y secundario de metrología óptica para el LAFTLA
Збережено в:
| Автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Опубліковано: |
[San José, Costa Rica: Universidad de Costa Rica. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones en Ingeniería.]
[2001?]
|
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|