Desarrolo de patrones nacionales de nivel primario y secundario de metrología óptica para el LAFTLA
Wedi'i Gadw mewn:
| Prif Awdur: | |
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| Fformat: | Llyfr |
| Cyhoeddwyd: |
[San José, Costa Rica: Universidad de Costa Rica. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones en Ingeniería.]
[2001?]
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| Tagiau: |
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