Desarrolo de patrones nacionales de nivel primario y secundario de metrología óptica para el LAFTLA
Zapisane w:
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Książka |
| Wydane: |
[San José, Costa Rica: Universidad de Costa Rica. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones en Ingeniería.]
[2001?]
|
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
Napisz pierwszy komentarz!