Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz
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| その他の著者: | |
| フォーマット: | 図書 |
| 出版事項: |
[San José], Costa Rica
2005
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| 主題: | |
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MARC
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| 008 | 140114s2005 cr a m 000 ||s d | ||
| 040 | |c cru CEDI | ||
| 090 | |a TFG 5212 | ||
| 100 | |a Ramírez Porras, Arturo, 1965- |9 1791 | ||
| 245 | |a Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz | ||
| 260 | |a [San José], Costa Rica |c 2005 | ||
| 300 | |a xii, 87 hojas : ilustraciones | ||
| 500 | |a Tesis (magíster scientiae en sistemas digitales)--Universidad de Costa Rica. Sistema de Estudios de Posgrado, | ||
| 501 | |a Director de Tesis de Graduación: Dr. Jorge Araya Pochet | ||
| 650 | |x SILICIO |x PROPIEDADES ELECTRICAS |x DISPOSITIVOS ELECTROOPTICOS |x DIODOS EMISORES DE LUZ |x OPTOELECTRONICA |x INVESTIGACIONES |9 5684 | ||
| 700 | |a Araya Pochet, Jorge, 1949- |d Director del TFG |9 1793 | ||
| 942 | |c TFG |2 ddc | ||
| 999 | |c 17212 |d 17212 | ||