Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz
Wedi'i Gadw mewn:
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| Awduron Eraill: | |
| Fformat: | Llyfr |
| Cyhoeddwyd: |
[San José], Costa Rica
2005
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| Pynciau: | |
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