Ramírez Porras, A., & Araya Pochet, . J. (2005). Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz.
Chicago Style (17. basım) AtıfRamírez Porras, Arturo, ve Jorge Araya Pochet. Aplicación Del Análisis De Ruido Flicker Para La Optimización Estructural Del Silicio Poroso Como Material Básico En La Producción De Nuevos Sensores Y Diodos Emisores De Luz. [San José], Costa Rica, 2005.
MLA (9th ed.) AtıfRamírez Porras, Arturo, ve Jorge Araya Pochet. Aplicación Del Análisis De Ruido Flicker Para La Optimización Estructural Del Silicio Poroso Como Material Básico En La Producción De Nuevos Sensores Y Diodos Emisores De Luz. 2005.
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