Ramírez Porras, A., & Araya Pochet, . J. (2005). Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz.
Cita Chicago Style (17a ed.)Ramírez Porras, Arturo, y Jorge Araya Pochet. Aplicación Del Análisis De Ruido Flicker Para La Optimización Estructural Del Silicio Poroso Como Material Básico En La Producción De Nuevos Sensores Y Diodos Emisores De Luz. [San José], Costa Rica, 2005.
Cita MLA (9a ed.)Ramírez Porras, Arturo, y Jorge Araya Pochet. Aplicación Del Análisis De Ruido Flicker Para La Optimización Estructural Del Silicio Poroso Como Material Básico En La Producción De Nuevos Sensores Y Diodos Emisores De Luz. 2005.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.
