Desarrolo de patrones nacionales de nivel primario y secundario de metrología óptica para el LAFTLA
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Έκδοση: |
[San José, Costa Rica: Universidad de Costa Rica. Facultad de Ingeniería. Instituto de Investigaciones en Ingeniería.]
[2001?]
|
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
| Περιγραφή τεκμηρίου: | Informe final: no. 731-A1-102 |
|---|---|
| Φυσική περιγραφή: | 17 hojas |