Monitor de fallos en sustratos de microprocesadores por medio de visión por computador

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Deliyore , Pablo
פורמט:	ספר
יצא לאור:	[San José, Costa Rica] 2007
נושאים:	MICROPROCESADORES > DISEÑO Y CONSTRUCCION > CONTROL DE CALIDAD
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

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