Monitor de fallos en sustratos de microprocesadores por medio de visión por computador

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Deliyore , Pablo
Formato:	Libro
Publicado:	[San José, Costa Rica] 2007
Materias:	MICROPROCESADORES > DISEÑO Y CONSTRUCCION > CONTROL DE CALIDAD
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

MARC


LEADER	00000nam a2200000Ia 4500
003	010378
005	20221231144056.0
008	140114s2007 cr a 000 \|\|s d
040		\|c cru CEDI
090		\|a TFG 5748
100		\|a Deliyore , Pablo \|9 4154
245		\|a Monitor de fallos en sustratos de microprocesadores por medio de visión por computador
260		\|c 2007 \|b [San José, Costa Rica]
300		\|a ix, 54 hojas; ilustraciones (algunas a color)
500		\|a Proyecto de graduación (bachillerato en ingeniería eléctrica)--Universidad de Costa Rica. Facultad de Ingeniería. Escuela de Ingeniería Eléctrica
650		\|x MICROPROCESADORES \|x DISEÑO Y CONSTRUCCION \|x CONTROL DE CALIDAD \|9 4155
942		\|c TFG
999		\|c 16511 \|d 16511