Monitor de fallos en sustratos de microprocesadores por medio de visión por computador

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Deliyore , Pablo
Formato: Libro
Publicado: [San José, Costa Rica] 2007
Materias:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
Descripción
Notas:Proyecto de graduación (bachillerato en ingeniería eléctrica)--Universidad de Costa Rica. Facultad de Ingeniería. Escuela de Ingeniería Eléctrica
Descripción Física:ix, 54 hojas; ilustraciones (algunas a color)