The Test access port and boundary-scan architecture
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The Test access port and boundary-scan architecture

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Outros autores: Maunder, Colin M., Tulloss, Rodham E.
Formato: Libro
Idioma:English
Publicado: Los Alamitos, California. : IEEE Computer Society Press,. c1991
Series:IEEE Computer Society Press tutorial
Materias:
ARQUITECTURA DE PROGRAMAS PARA COMPUTADORAS > BOUNDARY SCAN TESTING > CIRCUITOS ELECTRONICOS - PROCESAMIENTO DE DATOS
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