Soriano, J., Peña Blasco, J. A. d. l., & Marfil Pérez, R. (1981). Aplicación de la microscopía óptica y electrónica de barrido al estudio de los procesos de alteración diagenética de rocas volcanoclásticas.

Soriano, Jesús, José Andrés de la Peña Blasco, and Rafaela Marfil Pérez. Aplicación De La Microscopía óptica Y Electrónica De Barrido Al Estudio De Los Procesos De Alteración Diagenética De Rocas Volcanoclásticas. Madrid, España: Centro de Estudios y Experimentación de Obras Públicas. Departamento de Información y Documentación, 1981.

Soriano, Jesús, et al. Aplicación De La Microscopía óptica Y Electrónica De Barrido Al Estudio De Los Procesos De Alteración Diagenética De Rocas Volcanoclásticas. 1981.