Soriano, J., Peña Blasco, J. A. d. l., & Marfil Pérez, R. (1981). Aplicación de la microscopía óptica y electrónica de barrido al estudio de los procesos de alteración diagenética de rocas volcanoclásticas.
Cita Chicago Style (17a ed.)Soriano, Jesús, José Andrés de la Peña Blasco, y Rafaela Marfil Pérez. Aplicación De La Microscopía óptica Y Electrónica De Barrido Al Estudio De Los Procesos De Alteración Diagenética De Rocas Volcanoclásticas. Madrid, España: Centro de Estudios y Experimentación de Obras Públicas. Departamento de Información y Documentación, 1981.
Cita MLA (9a ed.)Soriano, Jesús, et al. Aplicación De La Microscopía óptica Y Electrónica De Barrido Al Estudio De Los Procesos De Alteración Diagenética De Rocas Volcanoclásticas. 1981.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.