Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz por Ramírez Porras, Arturo, 1965-

Determinación del comportamiento de la oxidación superficial del silicio poroso nanocristalino para su uso como posible material en sensores de contaminantes químicos por Rojas Fernández, Yoselin, 1993-

Otros Autores: “…Ramírez Porras, Arturo, 1965- Director del TFG…”